放射光は，従来の実験室用X線源によって生成される光（X線）よりもはるかに明るく，軟X線から硬X線まで広いエネルギー領域にわたる光である．X線は光子エネルギーの減少とともに元素に敏感になる．放射光の広いエネルギー領域と高輝度かつ質の高い光を用いた散乱法と分光法は，さまざまなソフトマテリアルの構造・特性解析における強力なツールとなる．本論文では，著者らがこれまでに取り組んできた放射光を利用したソフトマテリアルの構造・特性解析の一例として，1）一軸延伸中のコロイド結晶のメカノクロミック挙動と，変形下での粒子配列構造変化のその場超小角X線散乱による解析，2）テンダーX線を用いた斜入射広角X線回折による半導体ポリマー薄膜の膜厚方向の構造解析，3）X線吸収微細構造によるポリ（3-ヘキシルチオフェン）の生成機構の解析，4）高分子電解質ブラシ中の水構造の軟X線吸収及び発光分光分析について，報告する．
